28-01-2020
Termin: 28-29.01.2020 r. (16 h dydaktycznych)
Miejsce: Warszawa
--->Program szkolenia:
Podstawowe pojęcia fizyki dot. pól elektromagnetycznych: pole elektryczne, pole magnetyczne,
Podstawowe pojęcia z zakresu teorii sygnału:
Wartość skuteczna (RMS)
Wartość równoważna (WR)
Omówienie obowiązujących przepisów z zakresu pomiarów pola elektromagnetycznego w środowisku pracy:
Rozporządzenie Ministra Rodziny, Pracy i Polityki Społecznej z dnia 29 czerwca 2016r. w sprawie bezpieczeństwa i higieny pracy przy pracach związanych z narażeniem na pole elektromagnetyczne (t.j. Dz. U. 2018, poz. 331).
Rozporządzenie Ministra Pracy i Polityki Społecznej z dnia 12 czerwca 2018r. w sprawie najwyższych dopuszczalnych stężeń i natężeń czynników szkodliwych w środowisku pracy (t.j. Dz. U. 2018r. poz. 1286).
Narażenie na pole elektromagnetyczne w przestrzeni pracy podczas użytkowania systemów elektroenergetycznych i elektrycznych instalacji zasilających prądu przemiennego w energetyce. Metoda pomiaru pola elektromagnetycznego in situ –wymagania szczegółowe (PiMOŚP 2016, nr 4, s. 91 – 150)
Narażenie na pole elektromagnetyczne w przestrzeni pracy podczas użytkowania urządzeń nadawczych systemów radiokomunikacyjnych. Metoda pomiaru pola elektromagnetycznego in situ – wymagania szczegółowe (PiMOŚP 2017, nr 2, s. 89 – 131)
Opis najczęściej stosowanych źródeł pola elektromagnetycznego:
Zastosowanie
częstotliwość i charakterystyka emitowanego pola
problemy metrologiczne jakie mogą stwarzać te źródła oraz propozycje sposobów radzenia sobie z tymi problemami.
Przypomnienie najistotniejszych wiadomości z dnia poprzedniego
Właściwości metrologiczne mierników
Pasmo pomiarowe
Szybkość działania (stabilizacji wskazań)
Mierzone wartości
Odporność elektromagnetyczna
Wpływ warunków atmosferycznych
Budżet niepewności pomiarów pola elektromagnetycznego (ćwiczenia praktyczne z zakresu sporządzanie budżetu niepewności)
Nadzór metrologiczny nad wyposażeniem
Wzorcowanie (określenie punktów wzorcowania)
Sprawdzenia bieżące (określenie kryteriów)
Sprawdzenia okresowe(obserwacja trendów)
Ćwiczenia praktyczne – pomiar pola elektromagnetycznego wokół cewki.
Hasłowe przypomnienie najistotniejszych treści, ewaluacja końcowa.
28-01-2020
Termin: 28-29.01.2020 r. (16 h dydaktycznych)
Miejsce: Warszawa
--->Program szkolenia:
Akredytacja - dokumenty i wymagania PCA dla laboratoriów
Struktura normy, terminy i definicje
Wymagania dotyczące organizacji (struktura, kierownictwo, bezstronność i poufność)
Działalność laboratorium jako proces (podejście procesowe)
Personel laboratorium
Wymagania dotyczące zasobów i procesu
System zarządzania – nowe podejście w zarządzaniu laboratorium
Dokumentacja systemu zarządzania
Praktyczne rozwiązania dotyczące wdrożenia wymagań nowej normy w laboratorium
29-01-2020
Termin: 29.01.2020 r. (8 h dydaktycznych)
Miejsce: Warszawa
--->Program szkolenia:
Omówienie wymagań prawnych dotyczących badań żywności, pasz w kierunku modyfikacji genetycznych
Wskazanie metod referencyjnych w badaniach GMO
Zasady techniki PCR, real - time PCR, klasyczny PCR
Izolacja DNA oraz sposoby oceny skuteczności tego procesu
Optymalizacja reakcji PCR i real-time PCR
Rodzaje elementów kontrolnych stosowanych w technice PCR
Interpretacja wyników badań
Wskazanie cech charakterystycznych w wyniku sprawdzania metody dla metod jakościowych i ilościowych
30-01-2020
Cykl szkoleń:
· Wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2018-02
· Walidacja i weryfikacja metod badawczych
· Niepewność metody badawczej i poboru prób, zasady decyzyjne w ocenie zgodności
· Potwierdzanie ważności wyników badań
31-01-2020
Program szkolenia
· Narzędzia statystyczne stosowane w ocenie bieżącej i końcowej kart kontrolnych
· Budowa kart kontrolnych (karta pojedynczych obserwacji, karta średnich, karta różnicy)
· Ocena bieżąca kart i testy konfiguracji wg normy "Karty kontrolne Shewharta"
· Statystyczna ocena końcowa kart (test Q-Dixona, test F-Snedecora, test t-Studenta, test Cochrana i Coxa)
05-02-2020
Termin: 05-07.02.2020 r. (21 h dydaktycznych)
Miejsce: Warszawa
--->Program szkolenia:
Podstawy chromatografii cieczowej - część pierwsza
Klasyfikacja metod chromatograficznych; Podział chromatografii cieczowej w zależności od mechanizmu decydującego o procesie rozdzielenia; Podstawy teoretyczne procesu rozdzielania; Podstawowe parametry opisujące rozdzielenie; Wpływ różnych parametrów na rozdzielczość i selektywność; Stosowane fazy stacjonarne i dobór odpowiednich faz ruchomych; Metody przygotowania próbki przed analizą; Budowa układu pomiarowego; Rodzaje kolumn. Detektory. Analiza jakościowa i ilościowa
Walidacja metody analitycznej; Kierunki rozwoju metod chromatograficznych
Zajęcia laboratoryjne: Budowa chromatografu cieczowego oraz analiza jakościowa
Podstawy chromatografii cieczowej - część druga
Warsztaty: Obliczanie parametrów na podstawie rzeczywistych chromatografów
współczynnik retencji,
liczba półek teoretycznych,
współczynnik asymetrii piku
rozdzielczość,
przeprowadzanie testu poprawności metody (system suitability test) 2 godziny
Zajęcia laboratoryjne: Opracowanie warunków rozdzielenia:
wpływ składu fazy ruchomej oraz pH na rozdzielenie
Podstawy spektrometrii mas - widma masowe, metody jonizacji próbki: elektrorozpylanie (elektrosprej) i jonizacja chemiczna pod ciśnieniem atmosferycznym (APCI-atmosheric presure chemical ionization), budowa kwadrupolowego spektrometru mas.
Zajęcia laboratoryjne: Wykorzystanie chromatografii cieczowej ze spektrometrią mas (HPLC/MS) do identyfikacji związków fenolowych w wybranych produktach spożywczych
Typowe problemy w HPLC- podsumowanie i dyskusja
